コヒーレントX線回折によって明らかにされた電荷密度波転位

コヒーレントX線回折実験は、電荷密度波（CDW）システムK0.3MOO3の高品質結晶で行われています。CDWに関連する衛星反射は、20マイクロム梁の位置の関数として測定されています。一部の位置では、通常のフリンジが観察されています。この観察結果は、単一のCDW脱臼の存在と一致していることを示します。電荷密度波システムを超えて、この実験は、コヒーレントなX線回折が、バルクに埋め込まれたトポロジカル欠陥をプローブするための適切なツールであることを示しています。

Coherent x-ray diffraction experiments have been performed on high quality crystals of the charge density wave (CDW) system K0.3MoO3. The satellite reflections associated with the CDW have been measured as a function of the 20-microm-diameter beam position. For some positions, regular fringes have been observed. We show that this observation is consistent with the presence of a single CDW dislocation. Beyond charge density wave systems, this experiment shows that coherent x-ray diffraction is a suitable tool to probe topological defects embedded in the bulk.