金属強化蛍光（MEF）：siver-Islandフィルムの物理的特性評価とサンプルのジオメトリの探索

この研究では、さまざまな密度シルバーアイランドフィルム（SIF）の金属増強蛍光（MEF）効果と、観察された蛍光（EF）の観察された増強に対するサンプルジオメトリの効果を分析しました。SIF堆積時間（DT <7分）とともに銀島が指数関数的に成長することが示されています。SIFの光学密度は、ほぼ直線的にDTに依存します。電気伝導率はゼロです。DT> 7分で、シルバーアイランドが合併し、電気伝導率の急激な増加を示します。新しく提案されたSIF-GLASSサンプルジオメトリは、MEF研究で一般的に使用されるSIF-SIFサンプルジオメトリよりも高いEF値を示すことが示されています。Sif-Glassのジオメトリは、金属増強蛍光の適用の増加である表面免疫測定法に対する高い感度を示しています。

In this study we have analyzed metal-enhanced fluorescence (MEF) effects from different density silver island films (SiFs) and the effects of sample geometry on the observed enhancement of fluorescence (EF). It is shown that silver islands grow exponentially with SiF deposition time (DT<7min), optical density of SiFs almost linearly depends on DT; electrical conductivity is zero. At DT>7 min, silver islands merge, exhibiting a sharp increase in electrical conductivity. It has been shown that the newly proposed SiF-Glass sample geometry exhibits higher EF values than the commonly used in MEF studies SiF-SiF sample geometry. The SiF-Glass geometry demonstrates high sensitivity for surface immunoassays, a growing application of metal-enhanced fluorescence.