相関を伴う非周期層状構造からのX線回折：混合オーリビリウスフィルムの分析的計算と実験

異なる厚さ、構造、化学的内容の層で構成されるフィルムからのX線回折が分析されます。この障害は、さまざまな層のシーケンスの確率によって説明されます。層が静止マルコフ鎖を形成するときに、回折されたX線強度の閉じた分析式が得られます。提案されたモデルは、そのような1次元障害を備えたオーリビリウス構造を持つエピタキシャルビスマスチタン酸ナトリウム薄膜からの回折データに適用されます。この場合、この障害は、ビスマス酸化物の干渉者によって分離された3つのペロブスカイトユニットと4つのペロブスカイトユニットのランダムな積み重ねによって引き起こされます。分析計算の結果は、実験データとよく一致しており、BI（4）Ti（3）O（12）相にナトリウムの取り込みが4番目のペロブスカイトユニットの形成を引き起こすことを示しています。

X-ray diffraction from films consisting of layers with different thicknesses, structures and chemical contents is analysed. The disorder is described by probabilities for different sequences of layers. Closed analytical expressions for the diffracted X-ray intensity are obtained when the layers form a stationary Markov chain. The proposed model is applied to the diffraction data from epitaxial sodium bismuth titanate thin films with Aurivillius structure possessing such one-dimensional disorder. In this case, the disorder is caused by a random stacking of three and four perovskite units separated by bismuth oxide interlayers. The results of analytical calculations are in good agreement with the experimental data and indicate that the incorporation of sodium in the Bi(4)Ti(3)O(12) phase causes the formation of a fourth perovskite unit.