異常補正透過型透過型電子顕微鏡によるAuナノ粒子の表面自己拡散の定量測定

異常補正された高解像度透過型電子顕微鏡（HRTEM）を使用して、原子スケールでナノ粒子などのナノ構造上の表面自己拡散の定量的測定を可能にする方法を提示します。拡散係数は、HRTEM画像の時間配列で直接観察できるAuナノ粒子の表面での原子柱占有の変動を測定することで推定できます。au icosahedronと切り捨てられたau八面体の両方が調査され、それらの拡散係数は同じ大きさ、d = 10（-17）〜10（-16）cm（2）/sであることがわかります。測定された表面拡散は、イメージング電子ビームの影響を受けると想定されます。この仮定は、{100} auファセットでの（5×1）表面再構築の観測された不安定性によってサポートされています。

We present a method that allows for a quantitative measurement of the surface self-diffusion on nanostructures, such as nanoparticles, at the atomic scale using aberration-corrected high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM). The diffusion coefficient can be estimated by measuring the fluctuation of the atom column occupation at the surface of Au nanoparticles, which is directly observable in temporal sequences of HRTEM images. Both a Au icosahedron and a truncated Au octahedron are investigated, and their diffusion coefficients are found to be in the same order of magnitude, D = 10(-17) to 10(-16) cm(2)/s. It is to be assumed that the measured surface diffusion is affected by the imaging electron beam. This assumption is supported by the observed instability of a (5 × 1) surface reconstruction on a {100} Au facet.