イオン化放射線、過酸化水素、またはC-MYCの過剰発現と組み合わせた60 Hzの電磁界曝露後のDNA損傷の欠如

この研究の主な目的は、60 Hzの非常に低い周波数磁場（ELF-MF）に曝露した後、特に彗星アッセイを介してさまざまな外部因子と組み合わせた正常細胞株システムのDNA損傷を評価することでした。NIH3T3マウス線維芽細胞細胞、WI-38ヒト肺線維芽細胞、L132ヒト肺上皮細胞、およびMCF10Aヒト乳腺上皮細胞は、イオン化放射線の存在下または存在下で4時間または16時間、1 MT均一な磁場を露出しました（IR、1 GY）発癌性活性化。得られた結果は、ELF-MFのみにさらされた細胞と暴露された細胞の間に有意差はなかった。さらに、1 MT ELF-MFへの4〜16時間の事前曝露またはIR、H（2）O（2）、またはC-MYCの活性化と組み合わせたELF-MFへの同時暴露後、相乗的または添加剤効果は観察されませんでした。

The principal objective of this study was to assess the DNA damage in a normal cell line system after exposure to 60 Hz of extremely low frequency magnetic field (ELF-MF) and particularly in combination with various external factors, via comet assays. NIH3T3 mouse fibroblast cells, WI-38 human lung fibroblast cells, L132 human lung epithelial cells, and MCF10A human mammary gland epithelial cells were exposed for 4 or 16 h to a 60-Hz, 1 mT uniform magnetic field in the presence or absence of ionizing radiation (IR, 1 Gy), H(2)O(2) (50 μM), or c-Myc oncogenic activation. The results obtained showed no significant differences between the cells exposed to ELF-MF alone and the unexposed cells. Moreover, no synergistic or additive effects were observed after 4 or 16 h of pre-exposure to 1 mT ELF-MF or simultaneous exposure to ELF-MF combined with IR, H(2)O(2), or c-Myc activation.