フォースフィールド分析は、STMチップの存在による原子操作における拡散障壁の低下を示唆しています

液体ヘリウム温度での走査型トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡を組み合わせて、CU（111）表面上のCOの原子操作の物理学を研究します。原子操作では、吸着原子または分子が吸着剤と基質と先端との相互作用を使用して表面に配置されます。以前の実験は、先端および基質力の線形重ね合わせモデルと一致していますが、力のしきい値は先端の力場に依存することがわかります。ここでは、一酸化炭素フロント原子識別（COFI）を使用して、先端の力場を特徴付けます。魅力的なセンターでCOFIプロファイルを示すヒントは、任意の方向にCOを操作できますが、反発センターのヒントは特定の方向でのみ操作できます。力のしきい値は、1〜10 mVの範囲のバイアス電圧とは独立しており、4.5〜7.5 Kの範囲の温度とは無関係です。

We study the physics of atomic manipulation of CO on a Cu(111) surface by combined scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy at liquid helium temperatures. In atomic manipulation, an adsorbed atom or molecule is arranged on the surface using the interaction of the adsorbate with substrate and tip. While previous experiments are consistent with a linear superposition model of tip and substrate forces, we find that the force threshold depends on the force field of the tip. Here, we use carbon monoxide front atom identification (COFI) to characterize the tip's force field. Tips that show COFI profiles with an attractive center can manipulate CO in any direction while tips with a repulsive center can only manipulate in certain directions. The force thresholds are independent of bias voltage in a range from 1 to 10 mV and independent of temperature in a range of 4.5 to 7.5 K.