基本的なパラメータラー室の回折計でのラインプロファイルフィッティング

ラインプロファイルフィッティングへの基本パラメーターアプローチは、物理ベースのモデルを使用して、ラインプロファイルの形状を生成します。基本パラメータープロファイルフィッティング（FPPF）は、平行ビームと発散ビーム回折計の両方からのデータを合成および適合するために使用されています。洗練されたパラメーターは、回折計構成によって決定されます。分岐ビーム回折計では、発散スリットの角の開口部、受信スリットの幅と軸方向の長さ、軸ソラースリットの角の開口部、X線源の長さと予測幅、吸収係数、および吸収係数、およびサンプルの軸方向の長さ。平行ビームシステムでは、主要なパラメーターは、赤道分析器/ソラースリットの角の開口部と、軸サラースリットの角の開口部です。ビームパスにモノクロメーターが存在することは、通常、波長スペクトルを変更したり、軸方向の発散パラメーターの1つ以上を変更することにより収容されます。フラットアナライザー結晶は、ローレンツ型の角度受容機能としてFPPFに組み込まれています。基本的なパラメーターアプローチの本質的な利点の1つは、その適応性任意の実験室回折計です。通常、適合は、スリットサイズや回折計半径、放射プロファイルなど、回折計の既知の特性を使用して、精製なしで20範囲全体にわたって取得できます。

The fundamental parameters approach to line profile fitting uses physically based models to generate the line profile shapes. Fundamental parameters profile fitting (FPPF) has been used to synthesize and fit data from both parallel beam and divergent beam diffractometers. The refined parameters are determined by the diffractometer configuration. In a divergent beam diffractometer these include the angular aperture of the divergence slit, the width and axial length of the receiving slit, the angular apertures of the axial Soller slits, the length and projected width of the x-ray source, the absorption coefficient and axial length of the sample. In a parallel beam system the principal parameters are the angular aperture of the equatorial analyser/Soller slits and the angular apertures of the axial Soller slits. The presence of a monochromator in the beam path is normally accommodated by modifying the wavelength spectrum and/or by changing one or more of the axial divergence parameters. Flat analyzer crystals have been incorporated into FPPF as a Lorentzian shaped angular acceptance function. One of the intrinsic benefits of the fundamental parameters approach is its adaptability any laboratory diffractometer. Good fits can normally be obtained over the whole 20 range without refinement using the known properties of the diffractometer, such as the slit sizes and diffractometer radius, and emission profile.