EITセンサーに基づくTHZバンドのネマチック液晶の数値調査

このホワイトペーパーでは、電磁誘発性透明性（EIT）の概念を、異方性材料ネマティック液晶（NLC）の誘電率抽出に紹介します。THZバンドでNLCの複雑な誘電率を抽出するための新しい2段階の戦略が提示され、共振周波数からの相対誘電率テンソルを評価し、EITセンサーの品質因子Qからの損失接線を決定します。提案された方法は、EITセンサーの急激な共鳴による高精度と、透過係数の位相情報ではなく振幅のみが必要であるため、NLC層の厚さに対する高い堅牢性を特徴としています。NLC充填EITセンサーは、56.8μM/RIUの感度を示しています（屈折率変化ユニット（RIU）上の共振波長シフト）および6.92のメリット（FOM）の数値（FOM）を示しています。相対誘電率と喪失接線における提案された手法の不確実性は、それぞれ3％と8.2％です。

This paper introduces the concept of electromagnetically induced transparency (EIT) into the permittivity extraction of an anisotropic material-nematic liquid crystal (NLC). A novel two-step strategy is presented to extract the complex permittivity of the NLC at the THz band, which evaluates the relative permittivity tensor from the resonant frequencies and then determines the loss tangent from the quality factor Q of the EIT sensor. The proposed method features high accuracy due to the sharp resonance of the EIT sensor and also high robustness to the thickness of the NLC layer because only amplitude rather than phase information of the transmission coefficients is required. The NLC filled EIT sensor shows a sensitivity of 56.8 μm/RIU (the resonance wavelength shift over the refractive index change unit (RIU)) and Figure of Merit (FoM) of 6.92. The uncertainty of the proposed technique in the relative permittivity and loss tangent is 3% and 8.2%, respectively.