動的平行位相シフト電子スペックルパターン干渉計

電子スペックルパターン干渉法（ESPI）を使用したびまん性表面の変動を測定する方法は広く使用され、よく知られています。この研究では、Michelson構成に組み合わせた面外ESPIシステムを提示して、異なる位相シフトと同時並列干渉を生成します。システムは、円形偏光状態を使用して、並列相シフトインターフェログラムを生成します。偏光状態により、フリンジはコントラストの減少を経験しないため、干渉法の空間的または時間的位相シフトに影響を与える測定誤差を回避します。偏光変調の基本的な動作原理について説明し、アルミニウムプレートの時間的進化を表す結果が示されています。2つの同時パターンの生成により、プレートの動的パフォーマンスを追跡できます。

Methods for measuring variations in diffuse surfaces using electronic speckle pattern interferometry (ESPI) are widely used and well known. In this research, we present an out-of-plane ESPI system coupled to a Michelson configuration to generate simultaneous parallel interferograms with different phase shifts. The system uses circular polarization states to generate parallel phase shifted interferograms. Due to the polarization states, the fringes do not experience a contrast reduction, thus avoiding measurement errors that affect spatial or temporal phase-shifting in interferometry. The basic operating principle of polarization modulation is described, and results that represent the temporal evolution of an aluminum plate are presented. The generation of two simultaneous patterns allows one to track the dynamic performance of the plate.