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Data in brief2024Aug01Vol.55issue()

X線吸収分光法とX線回折によって分析されるヒ素ミネラルおよび化合物データ

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文献タイプ:
  • Journal Article
概要
Abstract

ここでは、28のヒ素鉱物と化合物のKエッジX線吸収分光法(XAS)データとして提示します。これらの鉱物と化合物は、鉱物ディーラー、博物館のコレクション、化学サプライヤーから入手し、シンクロトロンベースの粉末X線回折(XRD)によって肯定的に識別されました。すべてのサンプルは、カナダの光源シンクロトロン(カナダ、サスカトゥーン)でXRDとXASの両方について分析されました。AS K-Edge XASデータは、透過モードと蛍光モードの両方で収集され、拡張されたX線吸収微細構造(EXAFS)領域をカバーしました。両方のモードの生XASデータは、地質学的または環境研究で得られたXAS分析をサポートするために提供されます。さらに、K-Edge ExaFSスペクトルとして、K3加重振動χ(k)関数、およびこれらのKエッジデータのχ(R)のフーリエ変換は処理され、グラフィカルに提示されます。相対応するXRDデータを収集して、位相同一性を確認しました。2次元粉末回折画像をエリア検出器に対して収集し、統合してラインスキャンを生成しました。XRDデータは、0.68866Å(18 keV)または0.3497Å(35.45 keV)の波長で収集されました。RAWの表に描かれたASCファイルが利用可能ですが、パターンはそれぞれ0-40°2θ範囲または0-26.5°2θ範囲でグラフィカルに提示されます。このデータセットの目的は、ASの環境または地質研究を実施する研究者に参照XASスペクトルを提供することです。

ここでは、28のヒ素鉱物と化合物のKエッジX線吸収分光法(XAS)データとして提示します。これらの鉱物と化合物は、鉱物ディーラー、博物館のコレクション、化学サプライヤーから入手し、シンクロトロンベースの粉末X線回折(XRD)によって肯定的に識別されました。すべてのサンプルは、カナダの光源シンクロトロン(カナダ、サスカトゥーン)でXRDとXASの両方について分析されました。AS K-Edge XASデータは、透過モードと蛍光モードの両方で収集され、拡張されたX線吸収微細構造(EXAFS)領域をカバーしました。両方のモードの生XASデータは、地質学的または環境研究で得られたXAS分析をサポートするために提供されます。さらに、K-Edge ExaFSスペクトルとして、K3加重振動χ(k)関数、およびこれらのKエッジデータのχ(R)のフーリエ変換は処理され、グラフィカルに提示されます。相対応するXRDデータを収集して、位相同一性を確認しました。2次元粉末回折画像をエリア検出器に対して収集し、統合してラインスキャンを生成しました。XRDデータは、0.68866Å(18 keV)または0.3497Å(35.45 keV)の波長で収集されました。RAWの表に描かれたASCファイルが利用可能ですが、パターンはそれぞれ0-40°2θ範囲または0-26.5°2θ範囲でグラフィカルに提示されます。このデータセットの目的は、ASの環境または地質研究を実施する研究者に参照XASスペクトルを提供することです。

Here, we present As K-edge X-ray absorption spectroscopy (XAS) data for 28 arsenic minerals and compounds. These minerals and compounds were obtained from mineral dealers, museum collections, and chemical suppliers, and were positively identified by synchrotron-based powder X-ray diffraction (XRD). All samples were analyzed for both XRD and XAS at the Canadian Light Source synchrotron (Saskatoon, Canada). The As K-edge XAS data were collected in both transmission and fluorescence modes and cover the extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) region. Raw XAS data in both modes are provided to support XAS analysis obtained for geological or environmental research. Furthermore, As K-edge EXAFS spectra, the k3 weighted oscillatory χ(k) functions, and the Fourier-transforms in χ(R) of these K-edge data are processed and presented graphically. Corresponding XRD data was collected to confirm phase identity. Two-dimensional powder diffraction images were collected against an area detector and integrated to produce line scans. The XRD data were either collected at a wavelength of 0.68866 Å (18 keV) or 0.3497 Å (35.45 keV). Raw, tabulated asc files are available, while the patterns are also presented graphically over a 0-40 °2Θ range or 0-26.5 °2Θ range, respectively. The intent of this dataset is to provide reference XAS spectra to researchers conducting environmental or geological research on As.

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