高分子結晶学における回折データ分析のためのRファクターの改善

数量RSYM（RMERGEとも呼ばれます）は、X線回折データの品質を説明するためにほぼ普遍的に使用されています。ここでは、RSYMにはデータの冗長性に暗黙的な依存性があるため、RSYMに深刻な欠陥があることが証明されます。補正されたRファクターであるRMEASが、データの一貫性の同等の堅牢な指標として導入されます。さらに、RMRGDをRファクターに導入します。これは、還元データの品質の有用な指標として、同等の反射の平均化との精度の増加を反映しています。これらの新しいデータ品質指標は、非常に冗長データの利点をよりよく明らかにし、複数の結晶からのデータのマージの増加を通じてデータ品質の改善を刺激するはずです。

The quantity Rsym (also called Rmerge) is almost universally used for describing X-ray diffraction data quality. Here, we prove that Rsym is seriously flawed, because it has an implicit dependence on the redundance of the data. A corrected R-factor, Rmeas, is introduced as the equivalent robust indicator of data consistency. In addition, we introduce Rmrgd an R-factor that reflects the gain in accuracy upon averaging of equivalent reflections, as a useful indicator of the quality of reduced data. These new data quality indicators better reveal the benefits of highly redundant data and should stimulate improvements in data quality through increased merging of data from multiple crystals.